热门搜索: 日本 GOODMAN 电缆长度故障诊断测试仪 日本 GOODMAN 501型 地下埋设物探测仪 日本 TAKACHIHO MPL‑H12 电缆铁管探测仪 日本 FUJI TECOM PL‑G 铁管电缆探测仪 日本KEYTEC CTG‑2 冲击弹性波混凝土测厚仪 日本 KEYTEC Flex NX 电磁波雷达钢筋探测仪 日本 KGS EM‑01A 钢筋探测仪 日本KOBELCO SH‑69 淬火硬化层深度测定仪 日本 MATECH RMG4015 表面裂纹深度检测仪 UMX‑2日本 DAKOTA JAPAN 水下专用超声波测厚仪 日本 HITACHI 日立 CMI型 手持式镀层测厚仪 日本电磁测器 UDM‑750/750DL 超声波测厚仪 日本电磁测器 NDK UDM‑1100 超声波测厚仪 日本 SANKO SWT‑N232C 双型膜厚计 ACT‑300AⅡ‑H日本 ACTIVE 半导体用薄膜制备加热旋涂机 SJ‑220系列日本 Mitutoyo 小型表面粗糙度测量机

产品展示/ Product display

您的位置:首页  /  产品展示  /  物性测试仪器及设备  /  
  • 日本 HORIBA CN‑300 离心式纳米粒度分析仪

    日本 HORIBA CN‑300 离心式纳米粒度分析仪 HORIBA CN‑300 Partica CENTRIFUGE 是离心沉降法纳米颗粒分析设备。依靠离心力强化颗粒沉降,对纳米‑亚微米悬浮颗粒进行高分辨粒度分布测定,区别于普通光散射,可分辨接近粒径的混合颗粒体系,也可解析密度差异的复合颗粒,适合金属纳米颗粒、无机粉体、胶体、涂料浆料等样品,实现粒径分布、相对沉降速度、颗粒分馏评价。

    更新时间

    2026-10-13

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    16

  • E‑100HBV日本 WAVECYBER 手持工业粘弹性测定机

    日本 WAVECYBER 手持工业粘弹性测定机 WAVECYBER Vesmeter® E‑100HBV 为工业手持式便携粘弹性检测仪,采用 Vesmeter 专属振动传感技术,无需复杂样品前处理,手持探头直接接触被测对象,现场快速测定材料弹性、粘性、硬度、损耗系数等粘弹性指标。区别于大型台式流变仪,设备便携可带到产线、仓库、现场进行检测。

    更新时间

    2026-10-13

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    20

  • 日本 TRILAB TL302 咀嚼感评价测定机

    日本 TRILAB TL302 咀嚼感评价测定机 TRILAB TL302 咀嚼感评价测定机,采用正弦运动机构模拟真人口腔咀嚼的变速咬合动作,区别于传统质构仪匀速压缩模式,可高度复现人类咀嚼过程。设备搭载高精度测力传感器与激光位移传感器,搭配可更换探头、可选仿真义齿模型,将人的主观咀嚼口感转化为客观量化力学数据,降低感官评价的人为偏差,用于食品研发、配方对比、工艺优化、成品质检等场景。

    更新时间

    2026-10-13

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    17

  • 日本生物振动 FFD‑1 果实粘弹性测定仪

    日本生物振动 FFD‑1 果实粘弹性测定仪 日本生物振动研究所 FFD‑1 粘弹性测定器,和 DOP‑1 果振台同属共振检测系列设备,面向果蔬果肉、软质生物材料,依靠强制振动共振法,非破坏测定样品弹性、粘性、损耗系数等粘弹性参数,用来解析果实成熟软化、果肉质地变化。区别于穿刺式质构仪,样品几乎不受损伤,测试后可继续开展贮藏、理化分析等后续实验,多用于农学、食品科研机构。

    更新时间

    2026-10-13

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    22

  • 日本生物振动  DOP‑1 台式果振硬度测定仪

    日本生物振动 DOP‑1 台式果振硬度测定仪 日本有限会社生物振动研究所果振台 DOP‑1是台式非破坏型果实硬度共振测定设备,不穿刺果肉。将水果放置于测量台面,仪器通过压电加振器施加微弱振动,采集果实共振频率,换算果实硬度、粘弹性,评估成熟度、内部品质,区别于传统穿刺式硬度计,测试后果实可继续流通销售,适合农业科研、果品采后研究、育种实验等场景。

    更新时间

    2026-10-13

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    22

  • APH‑D30C日本信光电气计装 台式针孔检测仪

    日本信光电气计装 台式针孔检测仪 通过高压放电式针孔检测技术,可以无需接触即可检测绝缘材料(塑料盖子、塑料瓶、玻璃瓶、陶瓷制品等)在填充前的针孔缺陷。该设备具有5~30kV的宽范围可调电压,因此可用于检测各种产品,如盖子、薄膜等。 ※通过调整规格,也可适应其他电压需求。

    更新时间

    2026-10-12

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    32

  • 日本 NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置

    日本 NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置 NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置,基于磁光克尔效应 (MOKE),对磁性薄膜、微磁元件进行微区磁滞回线测试。使用激光聚焦实现微小区域磁化特性检测,无需电极接触,非接触式测量样品磁滞回线、矫顽力、饱和磁化、矩形比等磁学参数,适合极薄磁性膜、多层磁膜、微图案磁器件,是自旋电子、磁存储材料的重要物性表征设备。

    更新时间

    2026-10-12

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    24

  • 日本 幸和 K‑OMX X射线残余应力测定装置

    日本 幸和 K‑OMX X射线残余应力测定装置 日本 KOWADEN(幸和)K‑OMX 残余应力 X 射线测定装置,基于 X 射线衍射原理,采用 sin²ψ 法,对金属零部件表层残余应力进行非破坏检测。无需破坏工件,直接测定工件表面残余拉应力、残余压应力,同时可完成半高宽、结晶粒度等衍射相关参数解析。

    更新时间

    2026-10-12

    厂商性质

    经销商

    浏览量

    25

共 302 条记录,当前 7 / 38 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
微信扫一扫

邮箱:sale005@cnakiyama.com

传真:

地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生社区和健云谷2栋717

Copyright © 2026 深圳森泽工业品有限公司版权所有   备案号:粤ICP备2026128463号   技术支持:化工仪器网

TEL:18922517093

扫码加微信