日本 NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置
NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置，基于磁光克尔效应 (MOKE)，对磁性薄膜、微磁元件进行微区磁滞回线测试。使用激光聚焦实现微小区域磁化特性检测，无需电极接触，非接触式测量样品磁滞回线、矫顽力、饱和磁化、矩形比等磁学参数，适合极薄磁性膜、多层磁膜、微图案磁器件，是自旋电子、磁存储材料的重要物性表征设备。

日本 NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置

日本 NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置

NEOARK μKerr，μKerr ループ測定装置，磁光克尔效应测试仪，微区克尔回线测量系统，薄膜磁滞回线测定仪，磁性薄膜物性评估设备

产品介绍

NEOARK μKerr 磁光克尔环路测量装置，基于磁光克尔效应 (MOKE)，对磁性薄膜、微磁元件进行微区磁滞回线测试。使用激光聚焦实现微小区域磁化特性检测，无需电极接触，非接触式测量样品磁滞回线、矫顽力、饱和磁化、矩形比等磁学参数，适合极薄磁性膜、多层磁膜、微图案磁器件，是自旋电子、磁存储材料的重要物性表征设备。

产品特点

• 用于对图案磁性膜等进行微米级局部性能评估的磁滞回线测量装置

• 通过切换机构，可支持平面方向与垂直方向的测量。

• 在空气中仅需简单操作，即可在短时间内评估磁光特性。

• 具备映射测量功能及电动载物台选项

※可承接测试测量。

技术参数

产品用途

1. 自旋电子材料、磁存储薄膜的磁滞特性科研评价。

2. 铁磁 / 反铁磁多层薄膜、磁性功能薄膜物性测试。

3. 微图案磁元件、磁传感器样品微区定点磁性能检测。

4. 高校、科研院所磁性材料基础磁光实验。

5. 新材料研发中薄膜磁性工艺对比评估。