日本 幸和 K‑OMX X射线残余应力测定装置
日本 KOWADEN（幸和）K‑OMX 残余应力 X 射线测定装置，基于 X 射线衍射原理，采用 sin²ψ 法，对金属零部件表层残余应力进行非破坏检测。无需破坏工件，直接测定工件表面残余拉应力、残余压应力，同时可完成半高宽、结晶粒度等衍射相关参数解析。

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