日本进口大塚电子OPTM系列显微分光膜厚仪 支持1nm～92μm超宽膜厚范围、Φ3μm超小微区测量、1秒高速检测，可精准解析单层及多层膜结构，广泛用于半导体、光学薄膜、精密涂层、新能源材料的制程质检与研发表征。

日本进口otsuka大塚电子显微分光膜厚仪 支持1nm～92μm超宽膜厚范围、Φ3μm超小微区测量、1秒高速检测，可精准解析单层及多层膜结构，广泛用于半导体、光学薄膜、精密涂层、新能源材料的制程质检与研发表征。

日本DAIEI KAGAKU SEIKI小型测厚器CR-10A, FS-60DS 本仪器是对纺织品、针织品及胶卷、橡胶、泡沫塑料等的厚度进行测定的装置。 由于被测定物的不同，加压压力和压脚直径也不同。为了对适应各种规格被测物的测定， 本仪器使用可调换压脚及加压砝码。 CR－10A型主要用于一般纺织品和地毯等；FS－60DS型主要用于起毛织物和针织品等。

日本DENSOKU电解式膜厚计 CT-6 用于测量可通过电解液进行电解处理的金属镀层（铬、镍、铜、锡、无电解镍、铁、锌、铟、银等）的膜厚。这是一种能够应对各种镀层类型的高精度膜厚测量仪。

日本DENSOKU電解式膜厚計GCT-311 用于测量可通过电解液进行电解处理的金属镀层（铬、镍、铜、锡、无电解镍、铁、锌、铟、银等）的膜厚。这是一种能够应对各种镀层类型的高精度膜厚测量仪。

日本precision普瑞盛电解测厚仪CT-3型 品牌：日本电测 产品规格：CT-3 产地：日本进口, 原CT-1的改进形。应用日本最新电子技术，测量重复精度更高。

日本precision普瑞盛電解式膜厚計 GCT-311 電解液によって電解可能な金属皮膜（クローム、ニッケル、銅、錫、無電解ニッケル、鉄、亜鉛、インジュウム、銀、等）の膜厚を測定します。多様なめっきに対応する高精度膜厚計です。