日本 HORIBA CN‑300 离心式纳米粒度分析仪
HORIBA CN‑300 Partica CENTRIFUGE 是离心沉降法纳米颗粒分析设备。依靠离心力强化颗粒沉降，对纳米‑亚微米悬浮颗粒进行高分辨粒度分布测定，区别于普通光散射，可分辨接近粒径的混合颗粒体系，也可解析密度差异的复合颗粒，适合金属纳米颗粒、无机粉体、胶体、涂料浆料等样品，实现粒径分布、相对沉降速度、颗粒分馏评价。

日本 HORIBA 堀场，Partica CENTRIFUGE，CN‑300，遠心式ナノ粒子解析装置，离心沉降纳米粒度仪，离心式颗粒粒径分布分析仪

产品介绍

HORIBA CN‑300 Partica CENTRIFUGE 是离心沉降法纳米颗粒分析设备。依靠离心力强化颗粒沉降，对纳米‑亚微米悬浮颗粒进行高分辨粒度分布测定，区别于普通光散射，可分辨接近粒径的混合颗粒体系，也可解析密度差异的复合颗粒，适合金属纳米颗粒、无机粉体、胶体、涂料浆料等样品，实现粒径分布、相对沉降速度、颗粒分馏评价。

产品特点

1. 离心沉降光学检测原理，利用离心加速颗粒沉降，光学检测沉降过程颗粒浓度变化，对重叠粒径组分分辨能力优于动态光散射 DLS。

2. 宽离心转速可调，适配不同沉降速度颗粒；覆盖纳米至亚微米区间粒度测试。

3. 可同时解析粒径分布、沉降行为、不同密度组分分离状态，能够识别混合体系内多组颗粒群。

4. 样品消耗量少，低浓度悬浮液即可测试；兼容水相、部分有机溶剂分散体系。

5. 配套专用软件，输出粒度分布曲线、累积分布、微分分布，可导出 CSV 数据，支持多组数据比对。

6. 自动转速控制、温度监控，抑制温度漂移带来的数据偏差；操作流程标准化，降低人为误差。

7. 适合研究级样品评价，针对 DLS 难以区分的多分散、多组分纳米悬浮体系。

技术参数

主要用途

• 金属纳米颗粒、氧化物纳米粉体悬浮液粒度评价

• 胶体、涂料、墨水、陶瓷浆料纳米颗粒分布测试

• 分辨混合多组分颗粒体系，评估颗粒团聚状态

• 纳米材料研发、配方工艺筛选实验

• 高校、研究所材料实验室悬浮颗粒解析