日本 NCC DTSP10-03 落尘颗粒检测仪 测试
日本 NCC DTSP10-03 是专门用于检测自由下落沉降颗粒的特殊检测设备，区别于常规吸入式尘埃粒子计数器，用于捕捉空气中自然沉降的粉尘、异物颗粒，实时检测落下粒子的数量、粒径分布，针对洁净车间、无尘产线的落尘管控开发，是异物不良溯源、洁净环境评估的专用仪器。

日本 NCC DTSP10-03 落尘颗粒检测仪 测试

日本 NCC DTSP10-03 落尘颗粒检测仪 测试

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产品介绍

落尘计数器是一种环境监测仪器，类似于颗粒计数器，能够检测那些作为产品缺陷诱因的、直径在10微米到100微米以上的较大颗粒。

使用样品（4英寸硅晶圆），利用大颗粒会沉降的特性，对那些直径大于10微米的颗粒进行分离并计数。

与普通的粒子计数器不同，该产品只要在能够放置硅晶圆的地方，就可以进行检测。

※硅晶圆……用于半导体制造的基材，是一种表面平整度与耐热性优异的圆形板材。

产品特点

1. 专为沉降落下颗粒设计：不是吸气抽吸式采样，依靠自然沉降方式采集粒子，还原实际落到产品、基板上的异物状态，贴合制程中异物污染的真实场景。

2. 可识别、统计不同粒径的落下颗粒，记录粒子落下时序，便于分析落尘发生时段、污染突发点。

3. 实时画面观测 + 自动计数，内置光学成像检测单元，可留存颗粒影像，方便区分纤维、金属屑、树脂粉尘等异物类型，助力不良解析。

4. 体积紧凑，可放置在产线工位、涂布区域、组装工位等关键点位定点监测。

5. 数据自动存储，可导出报表，支持长期连续监测，追踪洁净度变化趋势。

6. 搭载阈值报警功能，落下颗粒超标时输出报警信号，及时发现洁净环境异常。

7. 维护简单，采样面更换便捷，减少交叉干扰。

技术参数

*3)通过任意方式设定的阈值是从校准曲线中获得的数值，并不能保证计数效率。

*4) 计数效率仅对4英寸区域有保证；对于仅限于2英寸区域的检测，不保证其计数效率。

用途

1. 半导体、FPD、光学元件无尘车间落尘监控，查找异物不良源头。

2. 锂电池、陶瓷、粉体材料涂布、干燥工序的空中沉降粉尘监测。

3. 精密零部件组装车间、医疗器械洁净区环境验证与日常点检。

4. 产线异物不良解析，对比不同工况下的落尘量差异。

5. 洁净室改造、设备排风、除尘方案效果验证。

6. 材料、电子类实验室洁净环境评估。