日本 AND AD‑1671 天平专用除振台 AD‑1671 是 AND 专为分析天平、微量天平开发的桌面式除振基座，采用空气弹簧被动隔振结构，吸收地面传来的振动、建筑震动，消除振动造成的称量漂移、数值跳动，大幅提升微量 / 半微量天平称量稳定性，适配 BM 系列、BA‑T 系列等高精度天平，放置于实验台面上即可使用，无需土建施工。

日本 AND 微量电子天平 测量仪器 BM 系列属于 AND 微量电子天平，电磁力平衡传感器，实现 μg 级别超微量称量。包含 BM‑5、BM‑20、BM‑22、BM‑5D 多款机型，整机配备高密封性大型防风罩，针对极少量粉体、薄膜碎片、微量试样称量，适合新材料、半导体、催化剂、医药研发，是日本实验室经典百万分之一微量天平。

日本AND BA‑T/BA型 微量分析天平 测量仪器 BA‑T / BA 系列是 AND 的微量、分析级电子天平，包含微量天平、半微量天平、分析天平多个子机型，采用电磁力平衡传感技术，实现超高称量精度。BA‑T 为带防风罩的标准分析款，BA 系列覆盖微量到精密称量，适合研发实验室、质检、材料粉体、化学试样高精度称重，满足微量样品、基准试样称量需求。