日本中央精机 光学定位X轴滑台 半导体用
LS‑6042‑S1 属于中央精机高等级手动 X 轴精密滑台，采用交叉滚子导轨结构，实现高直线度、低晃动。台面尺寸 60×42mm，进给采用精密微调螺杆，带锁紧机构，用于光学设备、检测装置、显微镜、样品台的一维精密位移调节，广泛应用于材料实验室、半导体检测设备的样品定位。

日本中央精机 光学定位X轴滑台 半导体用

日本中央精机 光学定位X轴滑台 半导体用

日本中央精机 CHUO SEIKI，LS‑6042‑S1，ハイグレード X ステージ，高精度手动 X 轴位移台，精密手动滑台，光学定位平台

产品介绍

LS‑6042‑S1 属于中央精机高等级手动 X 轴精密滑台，采用交叉滚子导轨结构，实现高直线度、低晃动。台面尺寸 60×42mm，进给采用精密微调螺杆，带锁紧机构，用于光学设备、检测装置、显微镜、样品台的一维精密位移调节，广泛应用于材料实验室、半导体检测设备的样品定位。

产品特点

1. 交叉滚子导轨，运动顺滑，直线度高，俯仰、偏摆晃动小，保障位移调节精度。

2. 台面尺寸 60×42mm，安装孔兼容标准 M6 螺纹孔，方便样品座、治具直接固定。

3. 精密微调进给螺杆，带刻度手轮，可读取移动量；配置锁紧手柄，调节完成后锁定滑台位置，防止位移漂移。

4. 本体铝合金基材，表面硬质氧化处理，轻量化同时具备良好刚性；耐腐蚀，适合实验室洁净环境使用。

5. 底座预留标准安装孔，可直接固定机架，也可多台组合搭建 XY 多维位移平台。

6. 高等级型号，运动间隙小，适合精密检测、光学对焦、样品对位场景。

技术参数

主要用途

‑ 光学设备、显微镜系统样品一维精密位移调节定位 

‑ 检测仪器、观察装置样品台位移调整 

‑ 搭配其他滑台组合成 XY 平台，用于样品对位、对焦 

‑ 新材料、半导体实验室实验设备搭建 

‑ 研发设备工装，微小位置手动精密微调