日本 NABEYA MQC型 测量治具 快速测量夹具
MQC 型快速夹紧治具，是 NABEYA 专为三坐标测量机、影像测量仪开发的轻量化快速夹持工装。无需工具，手动操作即可完成工件夹紧与释放，夹持力可调节，实现低应力夹持，避免工件被压伤变形。安装于测量工作台，适配多品种工件检测，省去定制夹具，缩短检测准备工时，广泛用于精密零部件、陶瓷、半导体零部件质检工位。

日本 NABEYA MQC型 测量治具 快速测量夹具

日本 NABEYA MQC型 测量治具 快速测量夹具

日本 NABEYA 鍋屋バイテック，MQC 型，メジャーリングクイッククランプ，测量用快速夹具，三坐标快速夹紧工装，无损伤工件夹持

产品介绍

MQC 型快速夹紧治具，是 NABEYA 专为三坐标测量机、影像测量仪开发的轻量化快速夹持工装。无需工具，手动操作即可完成工件夹紧与释放，夹持力可调节，实现低应力夹持，避免工件被压伤变形。安装于测量工作台，适配多品种工件检测，省去定制夹具，缩短检测准备工时，广泛用于精密零部件、陶瓷、半导体零部件质检工位。

产品特点

1. 手动快速夹紧机构，无需扳手、螺丝刀等工具，单手即可完成工件锁紧、松开，换件作业效率高。

2. 夹持力可微调，实现低应力夹持，防止薄板、脆性陶瓷、硬质合金工件产生压痕、形变，保障测量精度。

3. 夹紧头可更换，配备树脂保护触头，夹持时保护工件表面，避免划伤。

4. 底座带有标准定位孔，可直接固定在三坐标工作台、影像仪平台；可多组组合使用，夹持大小不同工件。

5. 结构紧凑，本体高度低，干涉范围小，减少对测头运动路径的遮挡。

6. 标准化通用工装，小批量多品种检测场景，不用单独制作专用夹具，降低夹具成本。

技术参数

主要用途

‑ 三坐标测量机、影像测量仪工件快速装夹定位 

‑ 陶瓷、半导体基板、薄壁精密零件夹持，避免压伤变形 

‑ 多品种小批量零部件检测，减少定制夹具投入 

‑ 质检实验室、研发工位，简化工件装夹工序，提升检测效率 

‑ 精密尺寸检测，消除装夹应力带来的测量偏差