日本 DIA-ELEC 相控阵超声波探伤设备
日本 DIA-ELEC 相控阵超声波探伤设备
DIA-ELEC TOPAZ64, ダイヤ電子応用，相控阵超声波探伤装置，相控阵超声检测仪，TOPAZ64 超声探伤仪，多通道相控阵无损检测设备，工业超声成像探伤设备
产品介绍
日本 DIA-ELEC（钻石电子应用）TOPAZ64 相控阵超声波探伤装置，64 通道相控阵超声检测设备，依靠电子控制多阵元探头，实现声束角度、聚焦深度动态调控。可对工件内部进行扇形扫描、线性扫描，生成二维断面图像，直观检出裂纹、气孔、分层等内部缺陷。设备信号采集速率高，成像分辨率好，支持 A 扫、B 扫、S 扫多种显示模式，检测数据可存储、回放与导出。适配金属、复合材料、陶瓷等试样，可用于实验室材料评价、零部件来料检验、工业构件无损探伤，广泛应用于新材料、半导体、精密机械领域。
产品特点
・最大64/128PR的相控阵，以及组传统的UT（200V）通道
・支持使用最多64个元件进行FMC或PWI数据采集
・实时高分辨率TFM
・符合相关标准的PAUT检测，支持32或64通道使用
・搭载TOFD功能
・扫描模式下的FMC数据采集功能
・12.1英寸的高精度多点触控显示屏
・最大PRF＜40kHz
出色的检测功能
・更强的UT性能。TOPAZ64采用了64/128PR相控阵UT架构，配备2组传统的UT通道（200V）。
・用于通过包括普通波形成像（PWI）、TFM、相控阵以及TOFD等多种方法进行符合标准要求的检测的多组设置。
・每帧最多100万点的高分辨率TFM
・65k点数的扫描模式下，可实现最高110Hz的高频TFM扫描；此外，新的双极脉冲发生器（150Vpp）能够产生更高能量，从而更适合用于厚材料的检测。
・无需再次扫描，即可通过保存用于记录管理及TFM后期处理的原始A-Scan数据来降低成本。
・采用不会让空气进入内部的坚固轻巧外壳，非常适合在恶劣环境中使用。
通过UltraVision软件进行控制
TOPAZ64内置了功能强的软件。Zetec的所有UT产品都基于同一个软件平台，这有助于节省宝贵的培训时间，并实现更高水平的系统协同效应。用户可以运用以下各种强功能。
・ 内置视觉反馈功能的高精度焦距计算
・体积合并与测量工具
・设备上的交互式帮助功能
・实时高分辨率TFM
・保存的基于Elementary A-Scan的重建TFM
・脉冲回波、频率同步捕获，以及采用多探头架构的2D矩阵阵列应用
・远程控制功能
为了获得检测方面的优势智能功能
快来体验更强的UT功能吧
这是一款全集成式便携式探伤仪，具备从32:128PR到64:128PR的相控阵配置，同时还拥有两组200V的常规UT通道。它是一个可轻松升级的检测平台。
为获得更佳性能而采用的高分辨率
每帧最多可处理100万点的超高分辨率TFM。在65k点/帧的情况下，可实现最高110Hz的快速TFM处理速度
可一次性进行全面检测
得益于多模式功能，TOPAZ64能够同时实现两种FMC数据采集方式；通过一个FMC最多可生成4个TFM帧；此外，它还支持PA和TOFD等所有检测方法，可一并使用
缺陷检测能力的提升
借助新型双极脉冲发生器，可以产生更高的能量，从而更适合用于厚材料的检测；同时，它还能为ZETEC产品提供出色的数据采集速率。
为严苛环境设计
不会让空气进入机壳内部的、坚固且轻便的外壳
易用性
12.1英寸的高分辨率多点触控屏幕，即便戴着手套也能操作，并能实现很好的画质。
技术参数
装置本体
| 尺寸（宽 x 高 x 深） | 278 x 343 x 158 毫米（10.9 x 13.5 x 6.2 英寸） |
| 重量（安装1块电池时） | 9.1公斤（20.0磅） |
| 多点触控显示屏 | 12.1英寸 – 1024 x 768像素 |
| 外部空气的引入 | 无 |
| 电池驱动 | 是的 |
| 内部存储 | 256 GB SSD |
| 装置的校准 | 符合ISO 18563-1 / EN 12668-1标准 |
环境
| 保护等级 | IP66设计 |
| 使用环境温度范围 | -10℃～45℃ |
| 保管温度范围 | -40℃～70℃ |
| 相对湿度 | 80%以下（无结露） |
I/O
| PA连接器 | ZPAC |
| 视频输出 | HDMI |
| 数据接口 | 以太网 1000 Base-T
1个USB 3.0接口
3个USB 2.0接口 |
相控阵
| 相控阵通道 | 32/128PR、64/64PR、64/128PR |
| 以往的UT频道 | 脉冲回波2CH / 2探头法2CH |
| 振幅分解能 | 16比特 |
| 计测用门 | 4+1同步门控（检测：峰值、交叉、自动交叉） |
| 最大PRF | ＜40kHz |
| 数据压缩率 | 1，2，4，8，16 |
| 最大印加电压（50Ω） | 150Vpp PA UT（双极型）/75V（单极型）/200V UT |
| 带宽幅（-3dB） | 0.5~18MHz PA、0.5~25MHz UT |
| 整流方式 | 数字 |
| 最大数据大小 | 2GB
原始A扫描数据无限制 |
| 编码器 | 3轴 |
| 过滤 | 模拟/数字（FIR） |
| 平滑处理 | 数字 |
| 自我诊断功能 | 是的 |
| 探针的自动识别 | 是（使用Zetec探针ID芯片时） |
| 焦距比数 | 1024（组数无限制） |
| TFM帧大小 | 最大100万积分 |
| TFM帧率 | 最高110Hz（65,000点帧分辨率） |
| 最大样本数 | 16,384 |
产品用途
用于金属构件、陶瓷、复合材料等试样的无损检测。适用于高校材料实验室、科研院所、质检机构、新材料企业，检测材料内部裂纹、孔洞、分层等缺陷，可视化表征缺陷位置与大小。用于原材料来料检验、零部件品质评估、材料失效分析，为新材料研发与精密零部件质量管控提供检测依据。
・符合标准要求的厚板焊接部位检测
・腐蚀情况检测
・复合材料检测
・复杂形状物体检测
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