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产品型号:TE系列
厂商性质:经销商
更新时间:2026-10-10
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日本 KMTL 神户 薄板细线用杨氏模量测定仪
日本 KMTL 神户 薄板细线用杨氏模量测定仪
KMTL 神户 TE 系列,杨氏模量测量装置,内耗测试仪,薄板杨氏模量测定仪,细线内耗测量设备,动态力学性能测试仪,金属薄板细线弹性检测仪
日本 KMTL 神户 TE 系列是专门针对薄板、细线试样开发的杨氏模量以及内部摩擦测量装置。依托神户精密测试技术,采用非接触式共振法原理,可精准测定薄板、细丝类样品的弹性模量与内耗值。设备测试对试样损伤小,适合微小尺寸试样,广泛应用于金属、合金、高分子薄膜、纤维等材料弹性性能评估。操作稳定,数据重复性好,满足材料实验室、新材料研发、质检机构对薄板细线动态力学特性的测试需求。
厚度在0.1毫米以下的薄箔或细线,由于其刚性极低,因此很难通过自由共振法获得准确的共振频率。为此,需要采用悬臂梁法来进行测量。不过,这种测量方法要求对样品的长度以及测试夹具进行特殊设计。TE系列产品配备了专门用于测量数十微米厚度的薄板或细线的夹具,从而能够实现高精度的测量。另外,如果您已经拥有杨氏模量测量仪JE-RT,只需添加TE测量模块,通过控制器的开关切换即可使用该设备。
| 可测量数十微米的箔材和细线。 |
| 杨氏模量 |
| 内部摩擦 |
| 等方性材料 |
| 短条状:板厚0.03毫米~0.5毫米 × 板宽3毫米~10毫米 × 长度20毫米~50毫米 |
| 棒状:直径0.03毫米~0.5毫米 ×长度20~50毫米 |
| 片持ち共振式固有振动法 |
| 非接触静电加振方式 |
| 非接触位移计 |
| 10Hz〜200Hz |
| TE-RT(室温用) |
| TE-HT(室温~500℃) |
| TE-LT(-180℃~室温) |
| TE-VLT(4K~室温) |
| TE-LHT(-180℃〜300℃) |
用于金属材料、合金、高分子薄膜、无机纤维等新材料的动态力学性能研究。可在高校材料实验室、科研院所、新材料企业研发中心,开展薄板和细线试样的杨氏模量、内耗测试,评估材料弹性、阻尼特性,用于材料配方开发、工艺优化、产品质量检验等工作。