日本 KMTL CCII系列 EMAR弹性常数测量装置
使用共振法测量弹性常数时，需要捕捉晶体层面的振动情况。在传统的RUS方法中，必须分析全部8种振动模式，因此分析过程相当复杂。
CCII系列则能够简化振动模式的分析，从而更轻松地测出弹性常数。此外，该设备还能用于测量尺寸仅为几毫米的小型样品（如立方体或各种单晶），这也是它的显著优势所在。

日本 KMTL CCII系列 EMAR弹性常数测量装置

日本 KMTL CCII系列 EMAR弹性常数测量装置

KMTL 神户 CCII 系列，EMAR 弹性常数测试仪，电磁超声共振法，弹性刚度 Cij 测定仪，单晶弹性常数测量设备，杨氏模量泊松比测试仪，材料动态力学性能检测仪

产品介绍

日本 KMTL 神户 CCII 系列采用 EMAR 电磁超声共振固有振动法，非接触式激发试样振动，可直接测定材料弹性刚度 Cij，并且自动换算杨氏模量、剪切模量、泊松比。设备支持数毫米微小试样检测，既能测试多晶各向同性材料，也可精准表征立方晶、六方晶、正方晶等各向异性单晶材料。无需耦合剂，避免接触式测量带来的干扰，测试数据稳定可靠，广泛用于高校、科研院所、新材料企业开展晶体、金属、合金等材料弹性物性研究，是精密弹性常数表征专用仪器。

产品特点

1. EMAR 电磁超声共振原理，非接触激励与检测，无需耦合剂

2. 可直接测定弹性刚度 Cij，软件自动输出杨氏模量、剪切模量、泊松比

3. 适配微小试样，可测量 5mm 角左右长方体、圆柱样品

4. 支持各向异性单晶材料测试，也可测量多晶等向性材料

5. 具备膨胀收缩振动、扭转振动多种振动模式，测试模式丰富

6. 共振频率区间宽，测量重复性好，适合材料研发与物性标定

技术参数

产品用途

用于金属、合金、单晶晶体、功能陶瓷等材料弹性常数检测。适用于高校材料学院、科研院所、新材料研发企业，开展晶体各向异性研究、新材料配方开发、材料工艺优化、原材料物性标定。可用于航空航天、半导体、功能材料领域微小试样弹性性能评估，获取材料完整弹性张量数据。