日本AND BA‑T/BA型 微量分析天平 测量仪器
BA‑T / BA 系列是 AND 的微量、分析级电子天平，包含微量天平、半微量天平、分析天平多个子机型，采用电磁力平衡传感技术，实现超高称量精度。BA‑T 为带防风罩的标准分析款，BA 系列覆盖微量到精密称量，适合研发实验室、质检、材料粉体、化学试样高精度称重，满足微量样品、基准试样称量需求。

日本AND BA‑T/BA型 微量分析天平 测量仪器

日本AND BA‑T/BA型 微量分析天平 测量仪器

日本 AND（エー・アンド・デイ），BA‑T シリーズ、BA シリーズ，マイクロ電子天びん，分析天秤，微量分析天平，实验室高精度称量

产品介绍

BA‑T / BA 系列是 AND 的微量、分析级电子天平，包含微量天平、半微量天平、分析天平多个子机型，采用电磁力平衡传感技术，实现超高称量精度。BA‑T 为带防风罩的标准分析款，BA 系列覆盖微量到精密称量，适合研发实验室、质检、材料粉体、化学试样高精度称重，满足微量样品、基准试样称量需求。

产品特点

1. 电磁力平衡传感器，重复性好，读数稳定；细分多档位：微量天平、半微量、分析天平机型可选。

2. 大型透明防风罩，可快拆，方便放入样品与清理；BA‑T 系列标配高性能防风结构，抑制气流对微量称量的干扰。

3. 多单位切换：g、mg、ct、oz 等，内置计数、百分比称量、密度测定功能。

4. 带 GLP/GMP 合规输出，可输出校准记录、称量日志；RS‑232C 接口，可连接打印机、电脑，数据导出保存，满足实验室数据溯源。

5. 内置自动校准（部分型号内部砝码自动校准），温度变化自动补偿，降低环境温漂带来的称量误差。

6. 大背光 LCD 显示屏，读数清晰；支持上下限报警，可设置称量判定阈值。

7. 型号覆盖：BA‑6TE、BA‑125T、BA‑225T（半微量），BA‑224T、BA‑300T 等分析天平机型。

技术参数

・計量モード：ｇ（グラム） / mg（ミリグラム） / pcs（個数） / ％（パーセント） / ct（カラット<宝石用>） / mom（もんめ<真珠用>）
・計量皿寸法：Ø25mm

・計量モード：ｇ（グラム） / mg（ミリグラム） / pcs（個数） / ％（パーセント） / ct（カラット<宝石用>） / mom（もんめ<真珠用>）
・計量皿寸法：Ø85mm

主要用途

‑ 化学实验室、材料研发微量粉体、试样高精度称量‑ 电池、陶瓷、医药、高分子材料样品配制称量‑ 高校、质检实验室，基准样品、标准物质称量‑ 密度测试、热重实验样品前处理称重‑ 满足 GLP/GMP 实验室对数据记录、可追溯的要求