日本 NIDEK FT-17 平面度测试仪
日本 NIDEK FT-17 平坦度测试仪，是高精度非接触式平面度检测设备，依托光学干涉原理，快速检测工件表面平坦度。检测过程无接触，不会划伤精密、软质、镜面工件，测量结果稳定可靠，操作便捷，适合光学元件、晶圆、陶瓷基板、薄板零部件的平面度快速检验，广泛应用于精密加工、半导体、光学行业实验室与产线质检工位。

日本 NIDEK FT-17 平面度测试仪

日本 NIDEK FT-17 平面度测试仪

NIDEK FT-17，平坦度测定机，フラットネステスター，平面度检测仪，光学式平面度测量仪

产品介绍

日本 NIDEK FT-17 平坦度测试仪，是高精度非接触式平面度检测设备，依托光学干涉原理，快速检测工件表面平坦度。检测过程无接触，不会划伤精密、软质、镜面工件，测量结果稳定可靠，操作便捷，适合光学元件、晶圆、陶瓷基板、薄板零部件的平面度快速检验，广泛应用于精密加工、半导体、光学行业实验室与产线质检工位。

特点

• 通过激光全面一次性分析，可在短时间内获取测量数据。

• 测量结果可以以测量值、等高线图、鸟瞰图、剖面图等形式呈现。

• 针对多重干涉条纹的独特相位偏移分析。

• 通过专用解析装置进行系统控制，操作极为简便（基于Windows操作系统）。

• 操作界面可以以日语或英语显示。

• 对于透明体样本，不仅可以进行分析，还能进行能够降低背面干涉的测量。

• 可以对已测量过的样本数据根据外围以外区域的变化等进行重新计算。

• 只需对客户提供的样品进行使用前的检查，无需进行特殊的校准。

用途

光学镜片、滤光片平面度检测；半导体、碳化硅、氧化铝陶瓷基板翘曲测试；精密金属薄板、玻璃盖板平整度检验；新能源、精密零部件来料品质管控、加工工序检测。

丰富的选项群