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日本TAISEI 大成技研 气体粉体过滤去除装置

日本TAISEI 大成技研 气体粉体过滤去除装置
日本 TAISEI 大成技研 TU 系列トラパック气体粉体去除装置,日本进口,专为半导体、液晶行业开发的工艺气体粉体捕集设备。可高效去除工艺气体中携带的固体微颗粒、粉尘,保护后端精密生产设备,防止管路与腔体内部粉尘堆积。设备适配洁净生产环境,结构紧凑,拆装维护便捷,能够稳定连续捕捉气体中的粉体杂质,是半导体、液晶制程中气体管路粉体处理专用设备。

  • 产品型号:TU系列
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-09-23
  • 访  问  量:38
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详细介绍

日本TAISEI 大成技研 气体粉体过滤去除装置

日本TAISEI 大成技研 气体粉体过滤去除装置


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产品介绍

“气体中的粉尘去除"技术,主要用于去除半导体及液晶制造设备(如离子注入、CVD、蚀刻等工艺)在运行过程中产生的气体反应产物——即微小颗粒。
特别是对于通过离子注入或CVD设备产生的、尺寸在1微米以下的反应产物,该装置能够利用旋流吸附技术以及高性能磁元件将其过滤掉。该装置的压力损失几乎为零,因此可以用于真空泵的前后阶段;它是一种极为有效的粉尘捕捉装置,能够轻松处理那些现有过滤器无法去除的微小粉尘。这无疑能够大大减少维护工作量并提升生产效率。

Trapack是一种用于去除半导体和液晶制造设备排放气体中所含的反应产物(即微粉体)的粉末过滤装置。

其结构共有三种类型:涡流旋转吸附型、磁力元件型(Trapack元件型),以及这两种类型相结合的复合型。

尤其是复合型装置,能够过滤掉来自蚀刻设备和CVD设备中的亚微米级微粉体。

特点

  1. 半导体・液晶专用设计:针对洁净制程工况开发,满足半导体、液晶产线的高洁净度要求。

  2. 高效粉体捕集:可捕捉工艺气流内的微细固体粉体颗粒,减少粉尘对精密设备的磨损与污染。

  3. 结构紧凑易安装:整机体积小巧,便于集成接入现有气体管路系统,现场改造简单。

  4. 维护便捷:捕集组件拆装简单,粉体收集单元可快速更换,缩短产线停机维护时间。

  5. 耐工艺气体腐蚀:接触气体部件选用适配半导体制程材质,耐受多种工艺气体。

  6. 大成技研原厂制造:TAISEI 大成技研原装产品,运行稳定,长期连续使用可靠性高。


エレメントタイプうずタイプコンビネーションタイプ

トラパック
エレメント
有り―有り
うずエレメント―有り有り
設置の場所真空系・排気系真空系・排気系排気系
圧力損失微小ゼロ微小
 用途 対象プロセス
インプラ・エッチング
CVD・エッチング
CVD・エッチング
ガスBF3, AsH3, PH3
BCL3, CL2
SiH4, NH3, NF3
BCL3, CL2
SiH4, NH3, NF3
BCL3, CL2

参数

日本TAISEI 大成技研 气体粉体过滤去除装置

半導体/液晶用トラパック
TU-200
(エレメントタイプ)

主要用途 : インプラ
エレメント形式 : EL
接続口径 : NW25
サイズ : D210mm×H210mm
重量 : 5.3kg

TU-250
(エレメントタイプ)

主要用途 : インプラ
エレメント形式 : FL
接続口径 : NW40
サイズ : D210mm×H295mm
重量 : 6.5kg

TU-500
(エレメントタイプ)

主要用途 : インプラ・エッチング
エレメント形式 : GL
接続口径 : NW40
サイズ : D300mm×H267mm
重量 : 10.0kg

TU-500W
(エレメントタイプ)

主要用途 : インプラ・エッチング
エレメント形式 : HL
接続口径 : NW40、NW50
サイズ : D300mm×H415mm
重量 : 13kg

TU-1000
(エレメントタイプ)

主要用途 : インプラ・エッチング
エレメント形式 : GL
接続口径 : NW40、NW50
サイズ : D300mm×H555mm
重量 : 16.5kg

用途

广泛应用于半导体晶圆制造、液晶面板、电子材料、精密元器件等行业。用于工艺管道内气体粉体杂质的捕集去除,拦截气流中的粉尘颗粒,保护真空泵、阀门、腔体等后端精密装置,降低管路堵塞、腔体污染风险,保障半导体、液晶洁净制程稳定运行。


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