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日本 ORIHARA SVP-100 变形检测分析仪

日本 ORIHARA SVP-100 变形检测分析仪
日本 ORIHARA(折原)SVP-100 光学变形检测仪,依托条纹投影光学检测原理,可对透明板材、光学镜片、薄膜等样品的翘曲、畸变、凹凸变形、面型偏差进行可视化检测与定量解析。能够直观呈现样品表面变形分布,自动计算变形量、翘曲度,是光学元件、平板材料品质检查专用设备。

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  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-10-30
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详细介绍

日本 ORIHARA SVP-100 变形检测分析仪

日本 ORIHARA SVP-100 变形检测分析仪


ORIHARA,SVP-100,歪み検査器,变形检测仪,翘曲检测仪,表面畸变检查仪,光学变形测试仪


产品介绍

日本 ORIHARA(折原)SVP-100 光学变形检测仪,依托条纹投影光学检测原理,可对透明板材、光学镜片、薄膜等样品的翘曲、畸变、凹凸变形、面型偏差进行可视化检测与定量解析。能够直观呈现样品表面变形分布,自动计算变形量、翘曲度,是光学元件、平板材料品质检查专用设备。


特点

  1. 非接触光学式检测,无需触碰样品,不会划伤镜片、薄膜等精密工件。

  2. 高速成像,一键生成变形云图,变形位置、大小直观可视化,缺陷一目了然。

  3. 自动定量计算翘曲量、畸变值、面形偏差,输出数值化检测结果,方便判定良莠。

  4. 适配透明材质,适合玻璃、树脂镜片、光学基板、透明薄膜等样品检测。

  5. 检测视野可按需调整,支持小尺寸精密零件到大尺寸板材检测。

  6. 配套专用分析软件,可保存检测图像、数据报告,用于批量品质追溯。

  7. 操作简单,放置样品即可测量,适合产线在线抽检以及实验室研发评估。

  8. 设备稳定性好,环境抗干扰能力强,可长期在车间、质检工位稳定运行。


技术参数

測定範囲0-280nm
分解能3nm
試料形状Max.200*200mm
寸法320*400*720mm
重量18kg
電源AC100V 210W




用途

  1. 眼镜镜片、光学树脂镜片的畸变、翘曲品质检测。

  2. 光学玻璃、盖板玻璃、透明基板面变形检查。

  3. 光学薄膜、PET/PC 透明薄膜的翘曲、形变评估。

  4. 镜头、棱镜等光学元器件面型不良筛查。

  5. 材料研发中温度、应力导致的形变对比试验。


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