日本 Santec 光学三次元测定器 轮廓仪
日本 Santec OPS-1000 高感度光学三次元形状测定器，采用扫频光源 OCT 外差干涉测量原理，属于非接触式三维形貌扫描设备。不受样品材质、颜色、表面状态限制，可对复杂曲面、斜面、微小凹陷、焊接熔孔等常规设备难以测量的区域进行高速三维扫描，输出点云数据。

日本 Santec 光学三次元测定器 轮廓仪

日本 Santec 光学三次元测定器 轮廓仪

Santec OPS-1000，光学三次元测定器，三维光学轮廓仪，非接触 3D 形貌测量仪，OCT 干涉式轮廓测量设备

产品介绍

日本 Santec OPS-1000 高感度光学三次元形状测定器，采用扫频光源 OCT 外差干涉测量原理，属于非接触式三维形貌扫描设备。不受样品材质、颜色、表面状态限制，可对复杂曲面、斜面、微小凹陷、焊接熔孔等常规设备难以测量的区域进行高速三维扫描，输出点云数据，广泛用于精密零部件形貌检测、失效分析、研发试样三维轮廓表征，兼顾实验室研发与产线在线检测场景。

特点

1. 超高检测灵敏度，光探测灵敏度低至100dB，动态范围大于 70dB，弱反射表面也可稳定测量

2. 单光束同轴测量结构，减少复杂工件遮挡干涉，可测量大倾角斜面

3. 高速扫描，最高每秒 40 万点采集，支持自动化批量检测

4. 相干测量原理，抗环境杂光干扰，车间环境也可稳定测量

5. 非接触无损检测，不会划伤精密、软质样品表面

6. 配套专用分析软件，支持扫描设定、CAD 比对、点云导出、形貌量化分析

7. 测量量程可选，最大测量纵深可达 1m，分高分辨率、长量程版本

参数

• 品牌：Santec（日本圣泰科）

• 型号：OPS-1000

• 原理：扫频激光 OCT 外差干涉法

• 类型：光学三次元形状测定器（3D 光学轮廓仪）

• 测量方式：非接触激光扫描

• 采集速率：最高 400000 点 / 秒

• 特点：高灵敏度、抗环境光、兼容复杂曲面测量

用途

激光焊接熔池、锁孔形貌观测分析；精密模具、切削刀具三维轮廓检测；半导体、光学元件表面形貌测试；材料断口失效分析、断面三维表征；MEMS、微小零部件尺寸与翘曲测量；新材料试样表面纹理、涂层轮廓检测；产品开发、品质检验、失效分析实验室。