日本菱电湘南 XY轴解析图像检测设备 探伤仪
日本菱电湘南 UI-29 ABC UTⅡ 图像处理装置，是可简便完成 X-Y 轴解析的视觉图像检测设备。搭载专用图像解析算法，可对工件图像进行坐标测量、轮廓提取、尺寸判定、位置解析，操作简洁，调试方便，广泛应用于精密零部件、电子元件、试样样品的视觉检测与尺寸分析，适配实验室、精密工厂质检工位。

日本菱电湘南 XY轴解析图像检测设备 探伤仪

日本菱电湘南 XY轴解析图像检测设备 探伤仪

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产品介绍

日本菱电湘南 UI-29 ABC UTⅡ 图像处理装置，是可简便完成 X-Y 轴解析的视觉图像检测设备。搭载专用图像解析算法，可对工件图像进行坐标测量、轮廓提取、尺寸判定、位置解析，操作简洁，调试方便，广泛应用于精密零部件、电子元件、试样样品的视觉检测与尺寸分析，适配实验室、精密工厂质检工位。

特点

1. 支持简便 X-Y 轴坐标解析，快速完成图像坐标测量分析

2. 一体化图像处理主机，配套视觉采集模块，集成度高

3. 测量判定稳定，重复性好，适合微小精密工件检测

4. 操作界面友好，参数设置简单，上手门槛低

5. 可输出检测数据、图像记录，便于品质追溯

6. 体积紧凑，可搭配显微镜、工业相机组成检测系统

用途

精密电子元器件尺寸检测；微小试样、新材料样品轮廓解析；五金精密件位置偏差检测；实验室图像测量分析；产线小样抽检、来料视觉检验。

这是一种能够快速采集通过X-Y轴平行扫描获得的检测材料的全波形数据，并对其进行图像化处理的装置。为探伤仪、控制用PC、水槽式X-Y扫描仪以及扫描仪控制器设计的紧凑型结构。可应用于评估堆焊或扩散焊接后的接合面质量、检测结构物中的裂纹与气孔、评估飞机等复合材料层间的剥离情况，以及进行半导体的内部检测等。