日本探头 空耦水浸两用样机超声检测探伤仪
日本 Japan Probe（日本探头株式会社）NAUT21-I 空耦・水浸两用样机超声波检测系统，是一款可切换空气耦合、水浸两种耦合方式的无损超声检测设备。突破传统超声必须耦合剂接触的限制，既可采用水浸耦合高精度检测，也支持空气耦合无接触检测，适配各类不能沾水、不能接触耦合剂的试样检测，适合材料研发、试样内部缺陷扫描、厚度检测等无损检测场景。

日本探头 空耦水浸两用样机超声检测探伤仪

日本探头 空耦水浸两用样机超声检测探伤仪

NAUT21-I，Japan Probe 超声波探伤系统，空耦水浸两用超声检测仪，非接触超声波检测装置，日本探头超声检测设备

产品介绍

可在空中(空气耦合)检测,水中(水浸)检测两种方法并用的样机.

用空气耦合超声波检测方法检查出的缺陷(C扫描,可确定缺陷的平面信息)、再用水浸检测法更详细的检测(可确定缺陷的空间位置)。

利用空气耦合超声波检查可实现非接触检测,可使材料的内部缺陷信息平面成像可视化。再与水浸检查法并用,使材料内部的缺损信息3D成像。

例如、锂离子电池的检查、先用空气耦合超声波检测把握缺陷的平面位置、然后再用水浸超声波检查法进行断层成像确定缺陷的深度位置,为锂离子电池的质量提高提供方案。

产品特点

1. 空耦、水浸两种耦合模式两用，一台设备满足两种检测需求

2. 空气耦合检测无需耦合剂，不污染、不损伤样品表面

3. 水浸模式信噪比高，检测精度高，微小缺陷检出能力强

4. 信号稳定，波形清晰

5. 系统集成度高，可搭配扫描机构实现 C 扫描成像检测

6. 支持材料内部气孔、分层、脱粘、裂纹等缺陷探查

用途

复合材料、蜂窝材料、陶瓷基板、薄膜、高分子板材的无损探伤；检测材料内部分层、气孔、脱层、裂纹缺陷；新材料研发试样评价、半导体基板检测、零部件非接触无损质检，适合不能沾水、禁止耦合剂污染的工件检测。