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产品型号:TOA‑II Z
厂商性质:经销商
更新时间:2026-10-14
访 问 量:11
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日本 Nippon Sanso 黄磷发光式微量氧分析仪
日本 Nippon Sanso 黄磷发光式微量氧分析仪
日本 Nippon Sanso,TOA‑II Z,黄燐発光式微量酸素分析計,黄磷发光微量氧检测仪,ppb 级惰性气体氧含量分析
TOA‑II Z 是 Nippon Sanso 经典黄磷发光原理微量氧分析仪,依靠黄磷与氧气接触产生化学发光,光电元件检测发光强度换算氧气浓度,可实现 ppb 级别超微量氧气检测,专门用于氮气、氩气、氦气、氢气等高纯工艺气体中痕量氧测定。机型兼顾台式固定安装与便携移动检测,广泛用于半导体供气、气氛热处理炉、高纯气体品质检测领域。
高灵敏度:最小检测灵敏度为5ppb
广泛范围:可检测至10ppm以内
高速响应:90%的响应时间在100秒以内
安全性:采用带阀的弹1药筒与黄磷容器,并配有黄磷除害装置。
便携性:配备便携式电源供应装置及把手,便于携带与分析。
※不附带便携电源,需由用户自行准备。
| 测定原理 | 黄磷发光式 |
|---|---|
| 测量范围 | 5ppb~10ppm(5档切换) |
| 测定对象气体 | N2、Ar、He、H2※ |
| 测定条件 | 水分浓度1ppm以下(露点-76℃) |
| 性能 | 重复性:对于N2和Ar气体,其测量值在满量程的±2%范围内。 |
| 外形尺寸 | 宽430×深325×高323(毫米) |
※如果无法获得指定浓度的标准气体,则需要另行选择校准曲线选项。
‑ 半导体行业高纯氮气、氩气、氦气、氢气中痕量氧气含量检测
‑ 烧结炉、气氛热处理炉保护气体氧含量监测,判断炉体空气渗入泄漏
‑ 高纯气体钢瓶、气体发生设备出厂品质检验、来料验收
‑ 新材料研发、粉末冶金工艺气氛氧含量管控
‑ 工厂现场便携取样检测,无需送样实验室,快速判定气体纯度