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日本安立计器 荧光式光纤温度计 光纤测温仪

日本安立计器 荧光式光纤温度计 光纤测温仪
日本安立计器 FL 系列荧光式光纤温度计,依托荧光衰减原理进行温度检测,探头不含金属,依靠光纤传输光学信号。具备优异的抗强电场、强磁场干扰能力,可用于电磁环境复杂场景的微小点位测温,响应速度快,测量稳定。适用于高压设备、微波、射频环境下的温度监测,是传统热电偶无法适用场景的理想测温方案。

  • 产品型号:FL系列
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-09-21
  • 访  问  量:62
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联系电话:18922517093

详细介绍

日本安立计器 荧光式光纤温度计 光纤测温仪

日本安立计器 荧光式光纤温度计 光纤测温仪


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产品简介

日本安立计器 FL 系列荧光式光纤温度计,依托荧光衰减原理进行温度检测,探头不含金属,依靠光纤传输光学信号。具备优异的抗强电场、强磁场干扰能力,可用于电磁环境复杂场景的微小点位测温,响应速度快,测量稳定。适用于高压设备、微波、射频环境下的温度监测,是传统热电偶无法适用场景的理想测温方案。

产品特点

  1. 荧光光纤测温原理,探头非金属材质,不产生感应电流,强电磁环境下测量不受干扰

  2. 微小探头设计,可实现微区域、狭小空间的定点温度测量

  3. 测温响应快,温度测量精度高,长期测量稳定性好

  4. 光纤本体绝缘,耐压性能强,适合高压、放电环境测温

  5. 探头种类丰富,可根据工况选配不同规格光纤传感探头

  6. 主机可多点测温,数据实时输出,便于接入采集系统记录温度曲线

技术参数


型名FL-2000
输入点数1
测量范围-195.0~450.0℃
分辨率0.1℃
精度未进行校准时

-195.0~399.9℃:±2℃

400.0~450.0℃:±5℃

校准使用时±0.5℃(在校准温度±50℃范围内)
温度系数当环境温度不在25℃±5℃范围内时,误差为±(0.01% of F.S./℃)。
动作环境温度:0~40℃,湿度:15~80%RH(无结露)
保存环境温度:-10~50℃,湿度:10~80%RH(无结露)
表示文字高度15毫米 红色LED
表示更新1秒
光源青色LED
电源AC100V±10%,50/60Hz 6节单三号碱性电池
消费电力约12VA
内存容量15,000个数据,间隔1秒
界面RS-232C传输速率:9600bps
数据格式:7位长度,奇数校验位,1个停止位
校准在1点校正的测量范围内,于任意温度下进行实际温度校正
模拟输出输出速率10毫伏/摄氏度
分辨率1mV
精度±(F.S.的0.2%) 气氛温度在25℃±5℃范围内
温度系数±(F.S./℃的0.01%)
外径尺寸210(宽)×88(高)×230(深)毫米,不含突出部分
质量约3kg
附属品

电源线(带两线插头)×1

保险丝(2A微型保险丝)×1

模拟输出接口×1

通信电缆×1

RS-232C・USB转换线×1

电脑软件AMS-800×1,使用说明书×1



※并不保证在上述所有运行环境下,该程序都能够在所有电脑上正常运行。
※仅拥有系统管理员权限的用户才能使用该程序。
※不支持Macintosh系统。
※Microsoft Windows®7、Windows ®8.1、Windows ®10以及Windows ®11均为微软公司在美国、日本及其他国家注册的商标。

型名FL-2400
输入点数4
测量范围-195.0~450.0℃
分辨率0.1℃
精度未进行校准时

-195.0~399.9℃:±2℃

400.0~450.0℃:±5℃

校准使用时

±0.5℃(在校准温度±50℃范围内)

(环境温度在25℃±5℃范围内)

温度系数当环境温度不在25℃±5℃范围内时,为±(0.01% of F.S./℃)
动作环境温度:0~40℃,湿度:15~80%RH(无结露)
保存环境温度:-10~50℃,湿度:10~80%RH(无结露)
表示文字高度8毫米 红色LED
表示更新1秒
光源青色LED
电源AC100V±10%,50/60Hz
消费电力约40VA
内存容量没有内存。
界面

RS-232C 传输速度:9600bps

数据结构:7位长度,奇数校验位,1个停止位

校准在1点校正的测量范围内,于任意温度下进行实际温度校正
模拟输出输出速率10毫伏/摄氏度
分辨率1mV
精度±(F.S.的0.2%) 气体温度在25℃±5℃范围内
温度系数±(F.S./℃的0.01%)
外径尺寸320(宽)×99(高)×280(深)毫米,不含突出部分
质量约5kg
附属品

电源线(带2线交换插头)×1

保险丝(2A微型保险丝)×1

模拟输出接口×4 通信电缆×1

RS-232C・USB转换线

电脑软件AMS-800×1 使用说明书×1


应用领域

  • 半导体制造设备、等离子体工艺腔体测温

  • 微波加热、射频设备内部温度监测

  • 高压电气设备、绝缘器件温度检测

  • 锂电池、燃料电池研发热测试

  • 科研实验强电磁场环境下的材料温度评价


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