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产品分类TECHNICAL ARTICLES
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产品型号:SuperLIX
厂商性质:经销商
更新时间:2026-09-21
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日本ADVANCE RIKO 高精度热膨胀仪 测量仪
日本ADVANCE RIKO 高精度热膨胀仪 测量仪
アドバン理工,ADVANCE RIKO,SuperLIX,超高精度レーザ熱膨張計,激光热膨胀计,激光热膨胀仪,热膨胀系数测试,材料热膨胀测定,非接触式热膨胀测量,高温热膨胀,试样热形变检测
日本アドバン理工(ADVANCE RIKO)SuperLIX 超高精度激光热膨胀计,采用激光非接触式测量原理,无需接触样品,可精准测定材料在升温、降温过程中的热膨胀量与热膨胀系数。规避接触式探头对样品产生的应力干扰,具备高位移检测分辨率,可实现从低温到高温区间的连续热形变监测,适用于各类固体材料的热膨胀特性评价。
优良陶瓷、低膨胀玻璃材料热膨胀性能检测
金属、合金材料高低温热膨胀特性评价
半导体、封装材料热形变测试
科研院所材料热物性基础研究
新材料研发,热匹配性与热稳定性验证
10-8/K级极低膨胀率材料(玻璃、陶瓷、金属等)的高精度膨胀测量
-半导体生产中与曝光相关的部件检测
-精密舞台部件的测量
-航空航天领域高精度要求材料的测量
-高精度相片基板用材料的测量
低膨胀率材料的品质管理
由于该装置内部配备了减震机制,因此能够有效避免振动干扰的影响,从而为一般分析用电子天平(分辨率0.01毫克)的稳定使用创造良好的测量环境。(特愿2016-058190、058191、058192)
以激光波长(632.8纳米)作为基准,来测量样品的位移量。通过将光学元件集成在一起,可以消除杂散光,从而提升干涉条纹信号的信噪比。无需进行任何特殊的位移校准测量或操作。
通过图像传感器检测干涉条纹,并对其进行图像处理,即便在样品测量过程中,也能以高分辨率计算出其位移(膨胀/收缩)量,从而确定其膨胀率。
| 型式 | SuperLIX-R |
|---|---|
| 温度范围 | 标准型5~50℃(使用高精度恒温循环系统) |
| 试样尺寸 | φ5或□5±0.5毫米×长度20毫米(标准样品尺寸为φ5×20毫米L,作为标准样品时,其端面需经过R形加工)。 |
| 测定氛围 | 减压He氛围 |
| 测定方法 | 双光路式迈克尔逊型激光干涉方式 |
| 设置床面积 | 约1200毫米(宽)×760毫米(深)×1600毫米(高) ※拆卸腔体时需要至少2500毫米的高度空间。 |
|---|---|
| 所要电源 | PC(显示器、主机):AC100伏,15安培(带电源插座和接地装置),2个接口 。排气系统:AC200伏,三相,15安培,1个接口 。气体导入系统:AC100伏,单相,15安培,1个接口 。恒温水循环器:AC100伏,15安培(带电源插座和接地装置),1个接口。 |
| 所要接地 | D种(接地电阻100Ω以下) 1处 |