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日本ADVANCE RIKO 高精度热膨胀仪 测量仪

日本ADVANCE RIKO 高精度热膨胀仪 测量仪
日本アドバン理工(ADVANCE RIKO)SuperLIX 超高精度激光热膨胀计,采用激光非接触式测量原理,无需接触样品,可精准测定材料在升温、降温过程中的热膨胀量与热膨胀系数。规避接触式探头对样品产生的应力干扰,具备高位移检测分辨率,可实现从低温到高温区间的连续热形变监测,适用于各类固体材料的热膨胀特性评价。

  • 产品型号:SuperLIX
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-09-21
  • 访  问  量:56
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详细介绍

日本ADVANCE RIKO 高精度热膨胀仪 测量仪

日本ADVANCE RIKO 高精度热膨胀仪 测量仪


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产品简介

日本アドバン理工(ADVANCE RIKO)SuperLIX 超高精度激光热膨胀计,采用激光非接触式测量原理,无需接触样品,可精准测定材料在升温、降温过程中的热膨胀量与热膨胀系数。规避接触式探头对样品产生的应力干扰,具备高位移检测分辨率,可实现从低温到高温区间的连续热形变监测,适用于各类固体材料的热膨胀特性评价。

应用领域

  • 优良陶瓷、低膨胀玻璃材料热膨胀性能检测

  • 金属、合金材料高低温热膨胀特性评价

  • 半导体、封装材料热形变测试

  • 科研院所材料热物性基础研究

  • 新材料研发,热匹配性与热稳定性验证

用途

  • 10-8/K级极低膨胀率材料(玻璃、陶瓷、金属等)的高精度膨胀测量
    -半导体生产中与曝光相关的部件检测
    -精密舞台部件的测量
    -航空航天领域高精度要求材料的测量
    -高精度相片基板用材料的测量

  • 低膨胀率材料的品质管理

特点

  • 由于该装置内部配备了减震机制,因此能够有效避免振动干扰的影响,从而为一般分析用电子天平(分辨率0.01毫克)的稳定使用创造良好的测量环境。(特愿2016-058190、058191、058192)

  • 以激光波长(632.8纳米)作为基准,来测量样品的位移量。通过将光学元件集成在一起,可以消除杂散光,从而提升干涉条纹信号的信噪比。无需进行任何特殊的位移校准测量或操作。

  • 通过图像传感器检测干涉条纹,并对其进行图像处理,即便在样品测量过程中,也能以高分辨率计算出其位移(膨胀/收缩)量,从而确定其膨胀率。

规格

型式SuperLIX-R
温度范围标准型5~50℃(使用高精度恒温循环系统)
试样尺寸φ5或□5±0.5毫米×长度20毫米(标准样品尺寸为φ5×20毫米L,作为标准样品时,其端面需经过R形加工)。
测定氛围减压He氛围
测定方法双光路式迈克尔逊型激光干涉方式

实用工具

设置床面积约1200毫米(宽)×760毫米(深)×1600毫米(高)
※拆卸腔体时需要至少2500毫米的高度空间。
所要电源PC(显示器、主机):AC100伏,15安培(带电源插座和接地装置),2个接口
。排气系统:AC200伏,三相,15安培,1个接口
。气体导入系统:AC100伏,单相,15安培,1个接口
。恒温水循环器:AC100伏,15安培(带电源插座和接地装置),1个接口。
所要接地D种(接地电阻100Ω以下) 1处


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