日本进口otsuka大塚电子激光粒度仪 ELSZneo 是日本大冢电子 OTSUKA 旗舰级纳米粒度‑Zeta 电位‑分子量综合测试系统，采用动态光散射 (DLS)+ 电泳光散射 (ELS)原理，属于纳米粒度仪，区别于激光衍射粒度仪，可对胶体悬浮液、纳米分散体系开展多维度颗粒物性表征。仪器搭载多角度散射检测技术，可依据样品浓度自动切换测量角度，支持从稀薄样品至高浓度原液直接测试，

日本进口otsuka大塚电子激光粒度仪

日本进口otsuka大塚电子激光粒度仪

产品简介

ELSZneo 是日本大冢电子 OTSUKA 旗舰级纳米粒度‑Zeta 电位‑分子量综合测试系统，采用动态光散射 (DLS)+ 电泳光散射 (ELS)原理，属于纳米粒度仪，区别于激光衍射粒度仪，可对胶体悬浮液、纳米分散体系开展多维度颗粒物性表征。仪器搭载多角度散射检测技术，可依据样品浓度自动切换测量角度，支持从稀薄样品至高浓度原液直接测试，大幅减少稀释带来的测试误差；配备宽域温控模块，可实现 0‑90℃温度梯度测试，完成蛋白变性、相变过程监测；可选超微量样品池，低至 3μL 样品即可完成粒径检测，同时支持固体平板表面 Zeta 电位测试，适配高盐缓冲液等复杂样品环境大塚科技股...。整机可同步输出粒径分布、Zeta 电位、分子量、粒子浓度、微流变、凝胶网络结构等多项参数，软件支持中英文双语，测试报告可导出 Excel、图片等格式，便于实验数据归档与对比分析。

主要特点

多角度光散射检测，可测最高 40% 高浓度样品，原液直接测量，规避稀释失真问题

一体化集成纳米粒径、Zeta 电位、分子量测试，一机多用

0‑90℃宽范围精准温控，支持温度梯度扫描，用于蛋白、高分子热稳定性研究

兼容微量样品池，仅需 3μL，节约珍贵生物样品

支持固体平板样品 Zeta 电位测试，可耐受高盐体系测试场景

操作流程简洁，测试速度快，重复性好，适配科研实验室与企业质控场景

数据输出，支持多组数据比对，报告格式丰富，满足研发、质检存档需求

技术参数

测量原理：动态光散射 DLS（粒径）、电泳光散射 ELS（Zeta 电位）

粒径测量范围：0.6 nm‑10 μm

Zeta 电位范围：‑200mV～+200mV

分子量测试范围：340‑2×10⁷ Da

样品浓度：0.1ppm～40%

样品用量：3μL‑1.5mL

温控范围：0‑90℃，温控精度 0.1℃

光源：638nm 激光器

应用领域

广泛用于新能源材料、纳米化工、涂料颜料、生物医药、蛋白制剂、高分子胶体、半导体、陶瓷浆料、催化剂、乳液、食品饮料等行业，用于纳米颗粒分散稳定性评价、原料研发、配方筛选、出厂质量检测，科研院所材料表征等场景。