日本NICHIRI 紫外吸光光度法清洗评价分析仪 UV8245v.3 是 NICHIRI 采用紫外吸光光度法开发的清洗效果定量评价设备。工件清洗后，使用溶剂萃取工件表面残留油污、油脂污染物，仪器检测萃取液的紫外吸光度，换算出工件表面残留污染物量，把清洗效果由主观目视判断转为客观数值化评价，广泛用于工业清洗工艺验证、清洗设备验收、零部件洁净度管控。

中国台湾UltraE UX150 免校正PH检测分析仪 UX150（蜂鸟探针 Humming Probe）是免校正抛弃式试片电极 pH 检测系统，主机搭配 UH1/UH2 一次性 pH 试片电极，出厂已经完成 NIST 溯源标定，扫描试片罐 QR 码即可直接测量，无需传统缓冲液校准。支持微量样品检测，UX150 新增 pH‑mV 趋势曲线连续记录功能，支持酸碱滴定终点自动判断。

日本 NISSHA SGC 传感器式气相色谱分析仪 SGC®（传感器气相色谱仪）采用NISSHA FIS开发的专用短柱作为色谱柱，同时使用NISSHA FIS的半导体式气体传感器作为检测器，从而实现了快速分离与高灵敏度的检测功能。该仪器兼容Windows 11系统。

日本 HORIBA 激光衍射散射式粒度分析仪 针对NIST可追溯的标准样品，该产品不仅能够实现±0.6%的高精度检测，还具有出色的重复性。它在亚微米级别的粒度分布测量方面取得了突破性进展，不仅在测量范围上，而且在实用性和性能方面都力求满足用户的需求。

日本 HORIBA CN‑300 离心式纳米粒度分析仪 HORIBA CN‑300 Partica CENTRIFUGE 是离心沉降法纳米颗粒分析设备。依靠离心力强化颗粒沉降，对纳米‑亚微米悬浮颗粒进行高分辨粒度分布测定，区别于普通光散射，可分辨接近粒径的混合颗粒体系，也可解析密度差异的复合颗粒，适合金属纳米颗粒、无机粉体、胶体、涂料浆料等样品，实现粒径分布、相对沉降速度、颗粒分馏评价。

日本细菌检查 BACcT 自动菌落计数仪 分析仪 BACcT AC‑BOX 自动菌落计数器，是用于微生物细菌检查的专用检测设备。通过光学图像识别技术对培养皿平板内的细菌菌落进行自动拍摄、识别与计数，替代人工肉眼统计，降低人为读数误差，提升菌落统计效率。适配常规琼脂培养皿，广泛应用食品、水质、制药、环境等微生物检测实验室，完成细菌菌落快速统计，数据可留存便于报告输出与溯源管理。

JAPAN THERMOTEC 热分析杯 CE CUP‑W JAPAN THERMOTEC CE CUP‑W 为 CE 热分析仪表专用热分析样杯，属于铸造冶金行业一次性消耗耗材。将熔融铁水注入样杯内部，配合热分析仪表完成铁水的碳当量、碳含量、硅含量等成分快速测算，帮助现场快速预判材质成分，适用于灰铸铁、球墨铸铁熔炼现场快速检测，样杯结构稳定，测温反应可靠，保障热分析曲线采集稳定，减少现场检测误差。

日本 ELENIX X射线光电子能谱仪 PAS Ⅳ J ELENIX PAS Ⅳ J 是日本 ELENIX 推出的桌面型 X 射线光电子能谱仪（XPS），主打材料研发场景，是适合实验室使用的紧凑型表面分析设备。设备利用 X 射线照射样品激发光电子，通过检测光电子能量，解析样品最表层（数纳米深度）的元素组成、元素化学价态。