日本 NITTOSEIKO MCP-T710 低抵抗电阻率计
ロレスタ - GXⅡ（Loresta-GXⅡ）MCP-T710 是日东精工开发的低抵抗专用电阻率测定设备，采用四探针测量原理，专门针对低阻抗导电材料，可测定材料的表面电阻率、体积电阻率。适用于导电橡胶、导电薄膜、金属镀层、导电涂料、导电纤维等材料，广泛应用于电子材料、防静电材料的研发与品质检测。

日本 NITTOSEIKO MCP-T710 低抵抗电阻率计

日本 NITTOSEIKO MCP-T710 低抵抗电阻率计

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产品介绍

ロレスタ - GXⅡ（Loresta-GXⅡ）MCP-T710 是日东精工开发的低抵抗专用电阻率测定设备，采用四探针测量原理，专门针对低阻抗导电材料，可测定材料的表面电阻率、体积电阻率。适用于导电橡胶、导电薄膜、金属镀层、导电涂料、导电纤维等材料，广泛应用于电子材料、防静电材料的研发与品质检测。

产品特点

在需要的时候、在需要的位置，能够高精度地测量低电阻区域的表面电阻率、体积电阻率（电阻率）以及导电率。

• 测量范围设为10-4～107Ω与洛雷斯塔GP（10-3～107）相比而言有所放大

• 通过改变电流方向，即可对硅晶圆进行测量。

• 定电流可变功能（可通过微小电流对样本进行测量）

• 可将2000项的测量结果输出到U盘上

• 由于采用了触摸屏，操作性得到了提升。

技术参数

主要用途

洛雷斯塔-GXⅡ是一种用于测量电阻率的仪器，而电阻率是评估材料性能的指标之一。

随着科学技术的不断发展，不仅在研发领域，而且在生产技术、质量控制方面，也越来越需要能够以更快速、更简单的方式，对材料进行精确度高的管理。而用来表示材料状态和性质的指标，就是电阻率（包括表面电阻率、体积电阻率以及电导率）。洛雷斯塔-GXⅡ这款设备，就可以通过使用校正系数来准确测量这些电阻率值。

该装置采用符合JIS K 7194标准的测量方法，通过各种探针，能够对导电塑料、ITO薄膜、硅片等多种材料进行检测。

与传统的四端法不同，无需在待测物体上制作电极，只需使用本公司提供的各种四探针探头，即可一键完成电阻率测量。

主要测量对象

■导电塑料、电磁波屏蔽材料、硅片、导电橡胶、

导电涂料、浆料、油墨、金属系薄膜、ITO玻璃、薄膜等