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产品型号:DINOAM4113TL
厂商性质:经销商
更新时间:2026-10-14
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日本 THANKO 偏光手持数码显微镜
日本 THANKO 偏光手持数码显微镜
日本 THANKO サンコー,Dino‑Lite Premier M Polarizer LWD,LWD 長作動距離,偏光 PL フィルタ搭載,USB 手持数码显微镜,反光工件外观检查显微镜
Dino‑Lite Premier M Polarizer LWD 是长工作距离 (LWD) 带可调偏光功能 USB 手持数码显微镜,型号对应 AM4113ZTL。LWD 长工作距离光学结构,镜头与样品之间留有充足空间,搭配可旋转调节偏光滤镜,消除金属、玻璃、塑胶工件表面强反光眩光,无需接触样品即可完成观察拍照,广泛用于工业质检、材料实验室、零部件外观检测场景。
LWD 长工作距离光学,工作距离大于 50mm,镜头不用贴近样品,可观察凹凸工件,样品上方可进行简单操作,适合不可触碰、立体工件观测。
可旋转可调偏光 (PL) 滤镜,镜头前端旋钮调节,有效抑制镜面反光眩光,解决金属、镀层、玻璃、塑胶强光反射看不清缺陷的痛点,不改变工件真实色彩。
约 130 万像素图像传感器,分辨率 1280×1024;内置 8 颗可调亮度白光 LED,USB2.0 接口直连电脑,实现实时预览、拍照、录像、软件测量。
变倍范围 20‑90 倍,一体化笔式手持机身,可手持使用,也可安装配套支架固定做工位设备。
支持软件测量、图像保存归档,适配 Windows 软件,可记录划痕、裂纹、异物尺寸数据。
可更换前端保护帽,应对不同观察工况,机身小巧便携,产线、实验室均可灵活使用。
‑ 金属零部件、镀层、焊点划痕、毛刺、裂纹外观检查,消除金属反光干扰
‑ 玻璃、透明塑胶基板表面污点、异物、划痕显微观测
‑ 立体工件、凹凸样品非接触放大观察,样品上方可操作作业
‑ 来料检验、成品质检,图像留存、尺寸测量归档
‑ 材料研发实验室,晶体、薄膜、镀层样品显微观察
主要功能
1. 丰富的测量功能
不仅可以测量静态图片,还可以测量视频。共有6种绘图工具和11种测量工具可供使用。此外,还可以对测量结果、文本、绘图等附加信息进行编辑、修改或删除。而且,测量数据还可以导出到Excel中。
2. 很好的显示功能
在观察画面和拍摄画面上,可以显示网格线、圆格线、十字线,还有可以自由移动的带刻度的十字线。这些功能有助于更准确地定位物体并进行测量。此外,还可以显示通过绘图和测量工具得到的数据。这些数据是以分层形式呈现的,因此可以自由调整其位置。
3. 可以同时使用多个Dino-Lite设备
最多可以在一台电脑上连接8台Dino-Lite设备,每台设备都可以独立运行。这有助于提高工作效率。
4. 校准功能
通过校准功能,可以实现更高精度的测量。此外,还可以根据不同的模型和放大倍数创建多个校准参数,从而实现更精确的测量。
5. 简洁易用的界面
通过菜单图标化设计,实现了直观易用的界面。此外,屏幕显示和菜单内容均为日语。另外,帮助菜单中还包含了数十页的详细日语手册。
6. 自动图像质量控制功能
除了自动曝光功能外,还具备更高级的自动图像质量控制功能。这样就能呈现出更接近真实颜色的自然色调。此外,还可以根据不同的使用需求,对相机图像质量进行精细调整。
7. OLE功能(与其他应用程序的兼容功能)
例如,可以将缩略图拖放到桌面上,或者直接在Photoshop等图像处理软件中查看这些图片。此外,还可以将测量数据导出到Excel中,从而在Excel中进行保存和编辑。拍摄的图片可以以JPG或BMP格式保存,因此可以直接用于制作报告或文档。