日本 HIL 光屋 HL‑DFL‑F120 LED平面光源
HL‑DFL‑F120 是 HIL 光屋超薄型 LED 平面检查光源，大尺寸均匀面发光，发光面照度均匀，减少局部光斑与阴影。主要用于工件表面划痕、凹凸、污渍、异物、覆膜缺陷的目视检查，广泛用于薄膜、基板、金属零部件、电路板质检工位，可平放、立式安装，也可作为透射背光光源使用。

日本 HIL 光屋 HL‑DFL‑F120 LED平面光源

日本 HIL 光屋 HL‑DFL‑F120 LED平面光源

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产品介绍

HL‑DFL‑F120 是 HIL 光屋超薄型 LED 平面检查光源，大尺寸均匀面发光，发光面照度均匀，减少局部光斑与阴影。主要用于工件表面划痕、凹凸、污渍、异物、覆膜缺陷的目视检查，广泛用于薄膜、基板、金属零部件、电路板质检工位，可平放、立式安装，也可作为透射背光光源使用。

产品特点

1. 超薄平板式面发光结构，整体厚度薄，节省工位空间；发光面照度均匀，光照柔和，降低强光反光带来的观察干扰。

2. 亮度可连续调节，适配不同工件材质、不同缺陷观察需求。

3. 支持两种使用模式：反射照明（工件表面外观检查）、透射背光照明（薄膜、薄片异物、针孔检测）。

4. 金属壳体，散热性能好，可长时间连续点亮，适合工厂产线、质检实验室长期作业。

5. 自带安装孔，既可桌面摆放，也可支架固定、设备内置嵌入安装。

6. 直流驱动，无频闪，长时间目视检查不易产生视觉疲劳。

技术参数

主要用途

‑ 薄膜、胶片、基板表面划痕、污渍、异物、针孔目视检测 

‑ 金属件、镀层零部件凹凸、划伤外观缺陷检查 

‑ 电路板、精密小件外观质检工位照明 

‑ 薄片样品透射背光观察，检测孔洞、杂质 

‑ 研发实验室、工厂质检工位目视检查补光