日本 PEAK 必佳 2008型 立式支架显微镜
2008 型是 PEAK 经典支架式立式放大镜显微镜，采用主体镜头 + 金属立式支架一体化结构，镜头高度可调节，样品放置台面即可直接观察。多用于工件表面外观检查、印刷、薄膜、粉体、电路板、细小零部件目视放大观察，无需外接电源，结构简单耐用，工厂质检、实验室现场广泛使用。

日本 PEAK 必佳 2008型 立式支架显微镜

日本 PEAK 必佳 2008型 立式支架显微镜

日本 PEAK（ピーク），2008 型，スタンド・マイクロスコープ，立式支架放大镜，带支架体视放大镜，台式便携显微镜

产品介绍

2008 型是 PEAK 经典支架式立式放大镜显微镜，采用主体镜头 + 金属立式支架一体化结构，镜头高度可调节，样品放置台面即可直接观察。多用于工件表面外观检查、印刷、薄膜、粉体、电路板、细小零部件目视放大观察，无需外接电源，结构简单耐用，工厂质检、实验室现场广泛使用。

产品特点

1. 一体式金属立式支架，镜头高度可上下调节，适配不同厚度样品，解放双手，方便双手操作样品。

2. 优质光学镜片，成像清晰畸变小，适合表面划痕、异物、毛刺、裂纹目视检查。

3. 底座带有样品定位刻度线，便于观察位置标记；底座开孔，可透射光观察半透明样品。

4. 整机轻巧，无需电源，可随意搬运，现场点检、流水线旁快速外观筛查。

5. 镜头可从支架取下，也可手持单独使用，一机两用。

6. 多倍率版本可选，2008 系列包含不同放大倍率子型号。

技术参数

25X PS№24 PS№25 PS№26

50X PS№13 PS№14 PS№15

75X PS№34 PS№35 PS№36

100X PS№44 PS№45 PS№46

主要用途

‑ 零部件表面划痕、毛刺、裂纹、异物外观目视检查 

‑ 薄膜、印刷、电路板、镀层表面观察 

‑ 粉体、纤维、细小试样简易放大观测 

‑ 工厂现场质检、来料简易筛查，流水线旁点检 

‑ 研发实验室，无需通电，快速目视初检