日本 PEAK 必佳 2008型 立式支架显微镜 2008 型是 PEAK 经典支架式立式放大镜显微镜，采用主体镜头 + 金属立式支架一体化结构，镜头高度可调节，样品放置台面即可直接观察。多用于工件表面外观检查、印刷、薄膜、粉体、电路板、细小零部件目视放大观察，无需外接电源，结构简单耐用，工厂质检、实验室现场广泛使用。

日本 SANWA LP10 便携式激光功率检测仪 LP10 是三和电气计器口袋便携型激光功率计，采用硅光电二极管传感器，专门用于连续波 (CW) 激光功率检测。基准校正波长 633nm 可直接读数，400‑1100nm 其余波长依靠机盖内侧换算表做换算，分体式探头可收纳于机身，体积小巧，适合实验室、产线现场快速检测激光模组、激光笔、光学拾取单元输出功率。

芬兰 VAISALA 半导体紧凑型在线折光仪 PR53S 是维萨拉专为半导体洁净车间开发的紧凑型超纯在线折光仪，采用光学折射原理，无需取样，直接安装在管路、湿法机台、化学供给系统，实时连续检测药液、CMP 研磨液的折射率并换算浓度值，自带温度补偿，适配半导体清洗、蚀刻、药液配比、CMP 抛光工序，可替代传统复杂昂贵的分析设备，实现工艺闭环管控。

日本 YASHIMA USB相机 数码显微镜 YASHIMA 这套系列包含三款设备：YCU‑300S 显微镜用 USB 工业相机、YDZ‑3S 变焦式 USB 数码显微镜、YDU‑3S 定倍式 USB 数码显微镜。全部搭载 300 万像素 CMOS 传感器，USB 直连电脑，配套 YCU‑Measure 测量软件，可完成图像观测、拍照录像、尺寸测量、图像合成，多用于工业检测、样品观察、品质检查、实

美国 Nordson AMI D9650 超声波扫描显微镜 Nordson AMI D9650 是 C‑SAM® 声学显微成像系统，主打高灵活度精细声学检测（Maximum Flexibility for Detailed Acoustic Inspections），采用水浸式超声波非破坏检测原理，支持反射模式、透射模式检测。

日本 HAYASHI-REPIC 林时计 卤素光源 日本 HAYASHI-REPIC（林时计）LA-100IR Lumina Ace 卤素光源，高性能红外卤素照明光源设备。采用卤素灯芯，输出富含红外波段的连续光谱，光输出稳定，光斑均匀。光源配备精密调光功能，可连续调节光输出强度，适配光纤导光输出，广泛用于材料红外加热、光学显微镜照明、试样红外照射试验、视觉检测、半导体相关光学评价等场景。

日本 ELENIX X射线光电子能谱仪 PAS Ⅳ J ELENIX PAS Ⅳ J 是日本 ELENIX 推出的桌面型 X 射线光电子能谱仪（XPS），主打材料研发场景，是适合实验室使用的紧凑型表面分析设备。设备利用 X 射线照射样品激发光电子，通过检测光电子能量，解析样品最表层（数纳米深度）的元素组成、元素化学价态。

日本 Thermera 双色式热成像相机系统 Thermera是一种能够利用测量用的相机或高速摄像机所拍摄的图像，通过双色法算法来计算温度分布的系统。 与红外温度计或辐射温度计不同，双色温度测量法几乎不受发射率的影响，因此无需进行任何校正。即便存在玻璃或烟雾之类的半透明物质，也无需进行校正，这种温度测量方法早已被广泛使用。